SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

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标准号:SJ/T 11399-2009

标准名称:半导体发光二极管芯片测试方法

发布日期:2009-11-17

实施日期:2010-01-01

主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。

批准发布部门:工业和信息化部行业分类无

中国电子技术标准化研究所

起草单位:中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

起草人:鲍超、胡爱华

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