IEC 61967-4:2021 集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量 1欧姆/150欧姆直接耦合法

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适用范围:IEC61967-4:2021标准适用于集成电路(IC)电磁发射的测量,具体规定了使用1欧姆/150欧姆直接耦合法测量传导发射的方法。该标准适用于频率范围通常从150kHz到1GHz的电磁发射测试,旨在评估IC在正常工作条件下通过其引脚产生的传导干扰。它主要用于集成电路制造商、测试实验室和相关行业,以确保产品符合电磁兼容性(EMC)要求。该标准是IEC61967系列标准的一部分,为IC的EMC测试提供了统一和可重复的测量方法。

IEC 61967-4:2021 集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量 1欧姆/150欧姆直接耦合法

IEC 61967-4:2021 集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量 1欧姆/150欧姆直接耦合法

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