适用范围：IEC61709:2017标准适用于电子元器件在可靠性评估和预测中的应用，主要针对电子元器件的失效率数据收集、分析和应用提供指导。该标准适用于各种电子元器件，包括集成电路、分立半导体器件、电阻器、电容器等，用于在设计和可靠性工程中预测元器件在实际使用条件下的失效率。它适用于元器件制造商、系统设计者和可靠性工程师，帮助他们在产品开发阶段评估和优化可靠性性能。
IEC 61709:2017 电子元器件 - 可靠性 - 失效率参考条件和应力模型转换
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