适用范围：IEC60749-26:2018标准适用于半导体器件，规定了盐雾环境下的测试方法，用于评估半导体器件在盐雾环境中的耐腐蚀性能。该标准适用于评估器件在运输、储存或使用过程中可能暴露于盐雾环境时的可靠性，主要针对非气密性封装的半导体器件。测试条件包括温度、盐溶液浓度和暴露时间等参数，旨在模拟沿海或工业等含盐环境对器件的影响。
IEC 60749-26:2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
IEC 60749-26:2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
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