适用范围：IEC60749-37:2022标准适用于半导体器件在机械和气候试验方面的可靠性测试，特别是针对半导体器件的耐硫化氢（H2S）气体腐蚀性能的评估。该标准规定了测试条件、程序和要求，用于评估半导体器件在含有硫化氢气体的环境中抵抗腐蚀的能力，确保其在恶劣环境下仍能保持性能和可靠性。该标准适用于各种类型的半导体器件，包括集成电路和分立器件。
IEC 60749-37:2022 半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法
IEC 60749-37:2022 半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法