适用范围：IECTS62607-6-12:2024适用于纳米制造领域中对关键控制特性的评估，特别是针对纳米材料在电子器件制造过程中的性能表现和可靠性测试，该技术规范为纳米材料在电子工业应用中的质量控制提供了标准化的测试方法和评估程序，确保纳米材料在制造过程中的一致性和可重复性，适用于相关行业的生产、研发和检测机构。
IEC TS 62607-6-12:2024 纳米制造 关键控制特性 第6-12部分：石墨烯 层数测定：拉曼光谱法、光学反射法
IEC TS 62607-6-12:2024 纳米制造 关键控制特性 第6-12部分：石墨烯 层数测定：拉曼光谱法、光学反射法
免费下载
声明：资源收集自网络分享，所提供的电子版文档仅供学习参考，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
不能下载？报告错误相关内容
- IEC TS 62607-6-22:2022 纳米制造 关键控制特性 第6-22部分：石墨烯基材料 灰分含量：灼烧法
- IEC TS 62607-4-8:2020 纳米制造 关键控制特性 第4-8部分：纳米增强型电能存储 电极纳米材料中水含量的测定 卡尔费休法
- IEC TS 62565-4-2:2018 纳米制造 材料规范 第4-2部分：发光纳米材料 通用照明和显示应用详细规范
- IEC TS 62607-3-3:2020 纳米制造 关键控制特性 第3-3部分：发光纳米材料 半导体量子点荧光寿命的测定 采用时间相关单光子计数法
- IEC TS 62607-6-14:2020 纳米制造 关键控制特性 第6-14部分：石墨烯基材料 缺陷水平：拉曼光谱法