适用范围：IEC62220-1-3:2008标准适用于医用电气设备中数字X射线成像装置的性能评价，特别是针对动态成像系统（如透视设备和连续摄影系统）的检测和评估。该标准规定了动态成像条件下探测器的基本性能参数（如DQE、MTF、NNPS等）的测量方法和要求，适用于各种类型的数字X射线成像设备，包括平板探测器和基于CCD或CMOS技术的系统。它主要用于评估在时间序列成像中探测器的性能特性，确保设备在临床使用中能够提供稳定、可靠的图像质量。
IEC 62220-1-3:2008 医用电气设备 - 数字X射线成像装置特性 - 第1-3部分：量子探测效率的测定 - 动态成像用探测器
