适用范围：IEC61160:2005适用于电子元器件可靠性评估领域，具体规定了失效率鉴定试验的通用要求和程序。该标准为制造商、测试实验室及用户提供了统一的试验方法，用于验证电子元器件在特定条件下的失效率是否符合规定要求。它适用于各类电子元器件，包括集成电路、半导体器件、电阻器、电容器等，旨在确保元器件可靠性数据的可比性和一致性，支持产品质量控制和供应链管理。
IEC 61160:2005 设计评审
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适用范围：IEC61160:2005适用于电子元器件可靠性评估领域，具体规定了失效率鉴定试验的通用要求和程序。该标准为制造商、测试实验室及用户提供了统一的试验方法，用于验证电子元器件在特定条件下的失效率是否符合规定要求。它适用于各类电子元器件，包括集成电路、半导体器件、电阻器、电容器等，旨在确保元器件可靠性数据的可比性和一致性，支持产品质量控制和供应链管理。
IEC 61160:2005 设计评审
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