标准号：GB/Z 119-2026
标准名称：晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测
发布日期：2026-01-04
GB/Z 119-2026由TC90（全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
适用范围：本文件描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）的试验方法，包括仪器装置、样品准备、测试步骤、结果处理和报告内容等。 本文件适用于晶体硅光伏组件，用于揭示样品对 LETID 衰减机制的敏感性，但不能精确测量其在户外实际的衰减情况。户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术。