SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法

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标准号:SJ/T 11500-2015

标准名称:碳化硅单晶晶向的测试方法

发布日期:2015-04-30

实施日期:2015-10-01

本标准规定了利用X射线衍射定向法测定碳化硅单晶晶向的方法。本标准适用于晶型为6H和4H的碳化硅单晶的晶向测定。

批准发布部门:工业和信息化部行业分类无

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人:丁丽、郝建民、周智慧 等

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