YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

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标准号:YS/T 1160-2016

标准名称:工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

发布日期:2016-07-11

实施日期:2017-01-01

本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。

本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定,测定范围为1%。

批准发布部门:工业和信息化部行业分类无

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