YS/T 26-2016 硅片边缘轮廓检验方法

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标准号:YS/T 26-2016

标准名称:硅片边缘轮廓检验方法

代替标准:YS/T 26-1992

发布日期:2016-07-11

实施日期:2017-01-01

本标准规定了硅片边缘轮廓(包含切口)的检验方法。

本标准适用于检验倒角硅片的边缘轮廓(包含切口),砷化镓等其他材料晶片边缘轮廓的检验可参照本标准执行。

批准发布部门:工业和信息化部行业分类无

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