标准号：YS/T 26-2016
标准名称：硅片边缘轮廓检验方法
代替标准：YS/T 26-1992
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
本标准规定了硅片边缘轮廓（包含切口）的检验方法。
本标准适用于检验倒角硅片的边缘轮廓（包含切口），砷化镓等其他材料晶片边缘轮廓的检验可参照本标准执行。
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
YS/T 26-2016 硅片边缘轮廓检验方法
免费下载
本平台标准仅供学习参考，使用请以正式出版的标准版本为准。声明：资源收集自网络分享，所提供的电子版文档仅供学习参考，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
不能下载？报告错误