标准平台
  • 首页
  • 国标
  • 行标
  • 地方
  • 团体
  • 计量
  • 资料

SJ 21147.1-2016集成电路电磁发射测量方法 第1部分:通用条件和定义

免费下载
举报

标准号:SJ 21147.1-2016

标准名称:集成电路电磁发射测量方法 第1部分:通用条件和定义

发布时间:2016-01-19

实施时间:2016-03-01

收藏 下载

声明:本站为网络服务提供者及网络索引服务平台资源索引自网络/用户分享,如有版权问题,请联系我们删除。

不能下载?报告错误
翻页:SJ 21041-2016低温共烧陶瓷多层基板制造 工艺设备通用规范
相关内容
  • YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC
  • YD/T 4512-2023 面向物联网设备的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)安全能力技术要求
  • YD/T 4513-2023 面向消费电子设备的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)安全能力技术要求
  • YD/T 3037.1-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端
  • YD/T 3036-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性技术要求
SJ 21147.1-2016集成电路电磁发射测量方法 第1部分:通用条件和定义
下载
用户昵称:小辉
注册时间:2025-05-18
认证方式:手机认证
资源帮助 上传文档

标签

YD通信标准 仪器 湖南省 河北省 钢管 检验检测 LB旅游标准 JR金融标准 电器 pvc 热处理 中心孔 建筑节能 电气设备 BB包装标准 QC汽车标准 燃气 水利 液压 平垫圈 人孔 CY新闻出版标准 噪声 黑龙江省

Copyright © 标准平台 关于我们

苏公网安备32011302321678标准平台自律公约