标准号：YS/T 1754-2025
标准名称：颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法
发布日期：2025-04-10
实施日期：2025-11-01
本文件描述了用浊度计测定颗粒硅表面粉尘的方法。
本文件适用于颗粒硅表面粉尘的测定，测定范围为0NTU～1000NTU。
起草单位：江苏中能硅业科技发展有限公司、乐山协鑫新能源科技有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、内蒙古鑫元硅材料科技有限公司、内蒙古鑫环硅能科技有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、青海沅平新能源科技有限公司
起草人：王彬、马姣、王春明、王永亮、李朋飞、陶睿、刘洋、李素青、徐梦、惠晓娜、边红利