SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

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标准号:SJ/T 10741-2000

标准名称:半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

代替标准:SJ/T 10741-1996

发布日期:2000-12-28

实施日期:2001-03-01

本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。

批准发布部门:信息产业部行业分类无

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