JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件

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标准号:JB/T 5482-2004

标准名称:X射线晶体定向仪 技术条件

代替标准:JB/T 5482-1991

发布日期:2004-06-17

实施日期:2004-11-01

本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求,试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于各种单晶、双晶衍射型定向仪。

批准发布部门:国家发展和改革委员会行业分类无

北京分析仪器研究所

起草单位:丹东市东方晶体仪器有限公司、辽宁仪表研究所等

起草人:赵久、刘海燕

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