T/ZSA 231-2024 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

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标准号:T/ZSA 231-2024

标准名称:氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

团体名称:中关村标准化协会

发布日期:2024年05月15日

实施日期:2024年05月16日

本文件描述了利用双晶X射线衍射仪测试氧化镓单晶片摇摆曲线及其半高宽的方法。

本文件适用于熔体法、液相法及气相法生长的β相氧化镓单晶片,对前述单晶片进行化学或机械抛光后的样品同样适用于此方法。

起草单位:中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、北京镓创科技有限公司、北京聚睿众邦科技有限公司、北京邮电大学、北京聚仪共享科技有限公司。

起草人:李培刚、宫学源、闫方亮、李龙、杨丽霞、王进进、朱勋、郑红军、刘祎晨、刘紫洋。

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