标准号：T/BEA 40003-2025
标准名称：测控设备抗干扰能力测试平台校准规范
团体名称：北京电子仪器行业协会
发布日期：2025年06月05日
实施日期：2025年06月05日
1范围
本标准规定了测控设备抗干扰能力测试平台的校准条件、校准项目、校准方法等方面的要求。
本标准适用于测控设备抗干扰能力测试平台的校准。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是标注日期的引用文件，日期的版本适用于本文件，凡是不标注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
JJF1001通用计量术语及定义
JJF1188-2008无线电计量名词术语及定义
GJB3756A-2015测量不确定度的表示及评定
3概述
测控设备抗干扰能力测试平台具备接收、输出宽频干扰信号能力，重点解决信号接收、分析、记录和模拟干扰信号输出的问题。平台可完成对测控设备抗干扰能力的测试验证，也可用于电磁环境测试、干扰排查等场景。
测控设备抗干扰能力测试平台由系统硬件主机和主机软件组成，系统组成框图如图1所示。
（1）系统硬件主机：系统接收，主要完成输入射频信号的接收、下变频，变成数字信号，进行频谱分析、采集存储、信号识别等功能，并将分析的结果进行显示和记录；系统发射，生成自主编辑的干扰信号或使用存储的信号构建干扰数据，完成数模转换，并经过上变频以及功率放大等处理后进行信号发射。
（2）主机软件：运行在CPU和GPU之上，主要完成系统的配置及控制，采集信号的分析、处理、记录、显示，发射信号的回放管理或信号编辑，记录数据的事后分析处理等功能。记录、显示，发射信号的回放管理或信号编辑，记录数据的事后分析处理等功能。
图1测控设备抗干扰能力测试平台组成框图
4计量特性
a）输出信号频率
频率范围：30MHz~40GHz；
频率准确度：±1×10-7~±1×10-8。
b）测量信号频率
频率范围：30MHz~40GHz；
频率准确度：±1×10-7~±1×10-8。
c）输出信号功率
功率范围：-20dBm~+10dBm；
最大允许误差：±0.5dB~±1dB。
d）测量信号功率
功率范围：-60dBm~0dBm；
最大允许误差：±0.5dB~±2dB。
5校准条件
5.1校准环境
环境温度：20℃±5℃；
环境湿度：≤80%；
供电电源：交流电压220V±10V，频率50Hz±1Hz；
其他：周围环境无影响系统正常工作的机械振动和电磁干扰。
5.2校准用设备要求
校准用设备经过计量技术机构检定（校准），满足使用要求，并在使用有效期内，各校准用设备在校准之前需要预热30分钟以上。
表1校准用设备清单
序号 仪器名称 性能指标 数量
1 微波信号源 输出频率范围：覆盖30MHz~40GHz；
参考时基：＜3×10-8/年；
频率设置分辨力：0.001Hz；
输出功率范围：-130dBm~+30dBm；
输出功率最大允许误差：±0.6dB~±1.5dB；
输出功率分辨力：0.01dB； 1台
2 频谱仪 测量频率范围：覆盖30MHz~40GHz；
分辨力带宽：1Hz~10MHz； 1台
3 功率计
（含功率传感器） 频率范围：覆盖30MHz~40GHz；
测量功率范围：覆盖-60dBm~+10dBm；
测量功率最大允许误差：0.067dB~0.260dB（k=2）；
分辨力：0.01dB； 1套
4 10MHz铷钟 老化率：＜5×10-10/年；＜5×10-11/月（连续工作1个月）。 1台
6校准项目和校准方法
6.1校准项目
表2校准项目表
序号 测试项目
1 外观及工作正常性检查
2 输出信号频率
3 测量信号频率
4 输出信号功率
5 测量信号功率
6.2外观及工作正常性检查
a）被校测控设备抗干扰能力测试平台应带有必要的附件；
b）被校测控设备抗干扰能力测试平台面板各按键、开关等应调节正常，不应有影响电气性能的机械损伤；
c）被校测控设备抗干扰能力测试平台通电后应能正常工作、显示清晰；
d）被校测控设备抗干扰能力测试平台按照技术说明书要求（一般为30分钟~60分钟）完成预热；
e）检查结果计入附录A表A.1。
6.3输出信号频率的校准
a）校准连接
图2输出信号频率的校准连接图
b）校准步骤
1) 频谱仪外接铷钟作为外参考；
2) 设置测控设备抗干扰能力测试平台输出单音信号，输出频率30MHz定频，输出功率-10dBm；
3) 频谱仪使用marker中的counter模式，设置对应中心频点30MHz，调整扫频宽度至合适位置，分辨力带宽1Hz，使用峰值搜索功能读出功率峰值处的频率值f0，并计入附录A表A.2；
4) 更改频率为600MHz、2.3GHz、4GHz、8GHz、13GHz、20GHz、26GHz、40GHz，重复2)~3)步骤。
6.4测量信号频率的校准
a）校准连接
图3测量信号频率的校准连接图
b）校准步骤
1) 微波信号源外接铷钟作为外参考；
2) 设置微波信号源输出单载波信号，输出频率30MHz，输出功率为-10dBm；
3) 设置测控设备抗干扰能力测试平台对应的中心频点30MHz，合理设置分析带宽，读出识别到的功率峰值处的频率值f0，并计入附录A表A.3；
4) 更改频率为600MHz、2.3GHz、4GHz、8GHz、13GHz、20GHz、26GHz、40GHz，重复2)~3)步骤。
6.5输出信号功率的校准
a）校准连接
图4输出信号功率的校准连接图
b）校准步骤
1) 对功率计和功率传感器进行校零与校准；
2) 设置测控设备抗干扰能力测试平台输出单音信号，输出频率30MHz定频，输出功率+10dBm；
3) 设置功率计通道对应的频率值30MHz，读出频率值P0，并计入附录A表A.4；
4) 更改测控设备抗干扰能力测试平台输出频率为2.3GHz、26GHz、40GHz，重复2)~3)步骤；
5) 更改测控设备抗干扰能力测试平台输出功率为0dBm、-10dBm、-20dBm，重复2)~4)步骤。
6.6测量信号功率的校准
a）校准连接
图5a标准功率计校准微波信号源输出功率
图5b测量信号功率的校准
b）校准步骤
1) 对功率计和功率传感器进行校零与校准；
2) 微波信号源输出单载波信号至功率计，输出频率30MHz，输出功率0dBm；
3) 设置功率计通道频率值30MHz，由功率计对微波信号源进行该频点下的0dBm功率校准，调整微波信号源输出功率至功率计示值为0dBm，记录此时微波信号源输出功率值并计入附录A表A.5；
4) 功率校准后，微波信号源输出设置保持不变，输入至测控设备抗干扰能力测试平台；
5) 设置测控设备抗干扰能力测试平台对应的中心频点30MHz，合理设置分析带宽，读出识别到的功率峰值处的功率值P0，并计入附录A表A.5；
6) 更改微波信号源输出频率为2.3GHz、26GHz、40GHz，重复2)~3)步骤；
7) 更改微波信号源输出功率为-20dB、-40dB、-60dB，重复2)~4)步骤。
7校准结果的处理
校准后，出具校准证书。校准证书至少应包含以下信息：
a） 标题：“校准证书”；
b） 实验室名称和地址；
c） 进行校准的地点（如果与实验室的地址不同）；
d） 证书的唯一性标识（如编号），每页及总页数的标识；
e） 客户的名称和地址；
f） 被校对象的描述和明确标识；
g） 进行校准的日期，如果与校准结果的有效性和应用有关时，应说明被校对象的接收日期；
h） 如果与校准结果的有效性应用有关时，应对被校样品的抽样程序进行说明；
i） 校准所依据的技术规范的标识，包括名称及代号；
j） 本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明；
k） 校准环境的描述；
l） 校准结果及其测量不确定度的说明；
m） 对校准规范的偏离的说明；
n） 校准证书签发人的签名、职务或等效标识；
o） 校准结果仅对被校对象有效的说明；
p） 未经实验室书面批准，不得部分复制证书的声明。
8复校时间间隔
建议时间间隔为1年。由于复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况、使用者、仪器本身质量等诸因素所决定的，因此，送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔。
经修理或调整的仪器设备，应校准后使用。?
附录A
校准记录表格
（原始记录格式与校准证书内页格式均以此为准）
环境温度____________相对湿度____________
送检单位____________校准日期____________
型号____________编号____________
校准人____________审核人____________
表A.1外观及工作正常性检查
序号 项目 检查结果
1 外观检查
2 工作正常性检查
表A.2输出信号频率校准记录表
序号 测控设备抗干扰能力测试平台输出频率标称值 频谱仪频率测量值 不确定度 符合情况
1 30MHz
2 600MHz
3 2.3GHz
4 4GHz
5 8GHz
6 13GHz
7 20GHz
8 26GHz
9 40GHz
表A.3测量信号频率校准记录表
序号 微波信号源输出频率标称值 测控设备抗干扰能力测试平台频率测量值 不确定度 符合情况
1 30MHz
2 600MHz
3 2.3GHz
4 4GHz
5 8GHz
6 13GHz
7 20GHz
8 26GHz
9 40GHz
?
表A.4输出信号功率校准记录表
序号 输出功率标称值 输出频率 功率计测量值 不确定度 符合情况
1 +10dBm 30MHz
2 2.3GHz
3 26GHz
4 40GHz
5 0dBm 30MHz
6 2.3GHz
7 26GHz
8 40GHz
9 -10dBm 30MHz
10 2.3GHz
11 26GHz
12 40GHz
13 -20dBm 30MHz
14 2.3GHz
15 26GHz
16 40GHz
表A.5测量信号功率校准记录表
序号 功率计校准后示值 测试频率 微波信号源实际输出功率 平台测量值 不确定度 符合情况
1 0dBm 30MHz
2 2.3GHz
3 26GHz
4 40GHz
5 -20dBm 30MHz
6 2.3GHz
7 26GHz
8 40GHz
9 -40dBm 30MHz
10 2.3GHz
11 26GHz
12 40GHz
13 -60dBm 30MHz
14 2.3GHz
15 26GHz
16 40GHz
?
附录B
测量不确定度评定示例
B.1输出信号频率不确定度
B.1.1测量模型和不确定度来源
式中：
——被测量，测控设备抗干扰能力测试平台的输出误差；
——频谱仪的示值；
——测控设备抗干扰能力测试平台的输出值。
测量不确定度的主要来源包括：
a）测量重复性引入的误差；
b）频谱仪分辨力引入的误差；
c）参考时钟引入的误差。
B.1.2标准不确定度分量的评定
a）测量重复性
用频谱仪测量测控设备抗干扰能力测试平台输出2.3GHz信号，10次测量结果如表B.1所示，采用A类评定方法计算贝塞尔公式：
式中：
——实验标准偏差；
——测量次数；
——第i次测量值；
——n次测量后的算术平均值。
表B.12.3GHz频率信号测量结果
测量次数 1 2 3 4 5
测量结果（Hz） 2300000037 2300000038 2300000042 2300000039 2300000040
测量次数 6 7 8 9 10
测量结果（Hz） 2300000038 2300000039 2300000042 2300000040 2300000038
经计算，10次测量后的实验标准偏差为1.70Hz，相对标准不确定度分量为=7.40×10-10。
b）频谱仪分辨力
频谱仪测量2.3GHz频率信号时，分辨力为1Hz，分辨力区间半宽度为0.5Hz，按均匀分布k=，引入的标准不确定度分量为0.29Hz，相对标准不确定度分量为=1.26×10-10。
c）参考时钟
10MHz铷钟的月老化率为5×10-11，即扩展不确定度为5×10-11，按均匀分布k=，则参考时钟引入的相对标准不确定度分量为=2.89×10-11。
B.1.3计算合成相对标准不确定度
各引入不确定度分量之间相互独立，则合成相对标准不确定度为：
B.1.4计算相对扩展不确定度
取k=2，则相对扩展不确定度：
B.2测量信号频率不确定度
B.2.1测量模型和不确定度来源
式中：
——被测量，测控设备抗干扰能力测试平台的示值误差；
——测控设备抗干扰能力测试平台的示值；
——微波信号源的输出值。
测量不确定度的主要来源包括：
a）测量重复性引入的误差；
b）测控设备抗干扰能力测试平台分辨力引入的误差；
c）参考时钟引入的误差。
B.2.2标准不确定度分量的评定
a）测量重复性
用测控设备抗干扰能力测试平台测量微波信号源输出26GHz信号，10次测量结果如表B.2所示，采用A类评定方法计算贝塞尔公式，经计算10次测量后的实验标准偏差为7.60Hz，相对标准不确定度分量为=2.92×10-10。
表B.226GHz频率信号测量结果
测量次数 1 2 3 4 5
测量结果（Hz） 26000000176 26000000169 26000000181 26000000179 26000000182
测量次数 6 7 8 9 10
测量结果（Hz） 26000000165 26000000160 26000000164 26000000169 26000000172
b）测控设备抗干扰能力测试平台分辨力
测控设备抗干扰能力测试平台测量26GHz信号时，分辨力最小可设置为0.5Hz，分辨力区间半宽度为2，按均匀分布k=，引入的标准不确定度分量为0.29Hz，则频谱仪分辨力引入的相对标准不确定度分量为=1.11×10-11。
c）参考时钟
10MHz铷钟的月老化率为5×10-11，即扩展不确定度为5×10-11，按均匀分布k=，则参考时钟引入的相对标准不确定度分量为=2.89×10-11。
B.2.3计算合成相对标准不确定度
各引入不确定度分量之间相互独立，则合成相对标准不确定度为：
B.2.4计算相对扩展不确定度
取k=2，则相对扩展不确定度：
B.3输出信号功率不确定度
B.3.1测量模型和不确定度来源
式中：
——被测量，测控设备抗干扰能力测试平台的输出功率误差；
——功率计的示值；
——测控设备抗干扰能力测试平台的功率输出值。
测量不确定度的主要来源包括：
a）测量重复性引入的误差；
b）功率传感器引入的误差；
c）功率计分辨力引入的误差；
d）失配引入的误差。
B.3.2标准不确定度分量的评定
a）测量重复性
用功率计测量测控设备抗干扰能力测试平台输出2.3GHz、功率0dBm信号，10次测量结果如表B.3所示，采用A类评定方法计算贝塞尔公式，经计算10次测量后的相对标准不确定度分量为=0.28%。
表B.32.3GHz、0dBm信号测量结果
测量次数 1 2 3 4 5
测量结果（dBm） 0.07 0.05 0.08 0.05 0.05
测量结果（mW） 1.0162 1.0116 1.0186 1.0116 1.0116
测量次数 6 7 8 9 10
测量结果（dBm） 0.05 0.05 0.06 0.04 0.05
测量结果（mW） 1.0116 1.0116 1.0139 1.0093 1.0116
b）功率传感器不确定度
在测量2.3GHz时，功率传感器测量不确定度为0.072dB（k=2），则引入的相对标准不确定度分量为=0.83%。
c）功率计分辨力
功率计分辨力为0.01dB，分辨力区间半宽度为0.005dB，按均匀分布k=，则功率计分辨力引入的相对标准不确定度分量为=0.07%。
d）失配
失配引入的不确定度与被校准测控设备抗干扰能力测试平台的输出端电压驻波比、功率计连接功率传感器的输入端电压驻波比有关，按以下公式计算反射系数，其中s为端口驻波比：
失配为反正弦分布，k=，然后根据下式计算失配引入的相对标准不确定度：
式中：
——被校准测控设备抗干扰能力测试平台的反射系数；
——功率计连接功率传感器后的反射系数。
表B.4失配计算
频率 被校准测控设备抗干扰能力测试平台 功率计连接功率传感器
驻波比 反射系数
驻波比 反射系数
2.3GHz 1.5 0.2 1.1 0.05 1.41%
B.3.3计算合成相对标准不确定度
各引入不确定度分量之间相互独立，则合成相对标准不确定度为：
B.3.4计算相对扩展不确定度
取k=2，则相对扩展不确定度：
B.4测量信号功率不确定度
B.4.1测量模型和不确定度来源
式中：
——被测量，测控设备抗干扰能力测试平台的示值误差；
——测控设备抗干扰能力测试平台的示值；
——功率计校准后的示值。
测量不确定度的主要来源包括：
a）测量重复性引入的误差；
b）功率传感器引入的误差；
c）功率计分辨力引入的误差；
d）失配引入的误差。
B.4.2标准不确定度分量的评定
a）测量重复性
用测控设备抗干扰能力测试平台测量微波信号源输出2.3GHz、0dBm信号，10次测量结果如表B.5所示，采用A类评定方法计算贝塞尔公式，经计算10次测量后的相对标准不确定度分量为=0.32%。
表B.52.3GHz、0dBm信号测量结果
测量次数 1 2 3 4 5
测量结果（dBm） 0.08 0.09 0.11 0.09 0.08
测量结果（mW） 1.0186 1.0209 1.0257 1.0209 1.0186
测量次数 6 7 8 9 10
测量结果（dBm） 0.07 0.09 0.07 0.10 0.07
测量结果（mW） 1.0162 1.0209 1.0162 1.0233 1.0162
b）功率传感器不确定度
在测量2.3GHz时，功率传感器测量不确定度为0.072dB（k=2），则引入的相对标准不确定度分量为=0.83%。
c）功率计分辨力
功率计分辨力为0.01dB，分辨力区间半宽度为0.005dB，按均匀分布k=，则功率计分辨力引入的相对标准不确定度分量为=0.07%。
d）失配
失配引入的不确定度与微波信号源的输出端电压驻波比、功率计连接功率传感器的输入端电压驻波比、测控设备抗干扰能力测试平台输入端电压驻波比有关，按以下公式计算反射系数：
失配为反正弦分布，k=，然后根据下式计算失配引入的相对标准不确定度：
式中：
——微波信号源的反射系数；
——功率计连接功率传感器的反射系数；
——测控设备抗干扰能力测试平台的反射系数。
表B.6失配计算
频率 微波信号源 功率计连接功率传感器
测控设备抗干扰能力测试平台
驻波比 反射系数
驻波比 反射系数
驻波比 反射系数
2.3GHz 1.2 0.09 1.1 0.05 0.64% 1.5 0.2 2.55%
B.4.3计算合成相对标准不确定度
各引入不确定度分量之间相互独立，则合成相对标准不确定度为：
B.4.4计算相对扩展不确定度
取k=2，则相对扩展不确定度：
——————————
以下空白
起草单位：北京东方计量测试研究所、北京信息科技大学、北京理工大学
起草人：贾冬宇、于伟华、徐圣法、徐春鹏、傅雄军、孙厚军、邓长江、李爽玉、李千惠、郑日新、郭会平。