标准号：T/SZSA 034-2025
标准名称：高速ESD&TVS保护类芯片测试规范
团体名称：深圳市半导体产业发展促进会
发布日期：2025年12月22日
实施日期：2026年01月01日
随着信息技术的飞速发展，HDMI、USB、Ethernet、PCIe等高速接口已广泛应用于消费电子、汽车电子、工业控制等领域，数据传输速率从几Gbps向数十Gbps跃升。高速接口在提升信息交互效率的同时，其对静电放电（ESD）和浪涌（Surge）的敏感性显著增加，ESD&TVS保护类芯片作为抵御瞬态干扰的核心器件，其性能直接影响电子设备的可靠性与信号完整性。
现有标准多聚焦于通用TVS器件的基础指标，对高速场景下的选型、高频测试方法（如矢量网络分析仪校准、眼图测试）覆盖不足，造成产业链上下游（芯片厂商、设备制造商、测试机构）技术对接成本高、产品兼容性差。
为解决上述问题，本标准统一HDMI、USB等主流高速接口的TVS选型参数（工作电压、极性、电容等），为不同接口类型提供明确的选型依据，降低应用端设计难度；明确高频电容、S参数、瞬态过冲电压等关键指标的测试流程及设备校准规范（如TRL校准），确保不同测试机构的测试数据具有可比性；指导企业在电路布局、多级防护配合等方面进行科学设计，提升设备可靠性。
本标准的制定与实施，将有效解决高速ESD&TVS保护类芯片在选型和测试中存在的问题，推动行业技术标准化，助力电子设备向高速化、高可靠性方向发展，为产业链上下游提供统一的技术规范和合作基础。
起草单位：深圳市晶扬电子有限公司、深圳市计量质量检测研究院、电子科技大学（深圳）高等研究院、南京工业职业技术大学-集成电路学院、深圳市半导体产业发展促进会、西北工业大学-微电子学院、深圳市南方硅谷半导体股份有限公司、深圳市金誉半导体股份有限公司、深圳深爱半导体股份有限公司、深圳大学-电子与信息工程学院、江苏信息职业技术学院-微电子学院、无锡科技职业学院-集成电路学院、深圳市智微智能科技股份有限公司、东莞平晶微电子科技有限公司、深圳市长运通半导体技术有限公司、深圳市志忠微电子有限公司、隼瞻科技（广州）有限公司、深圳市华南英才科技有限公司、深圳市依崇微电子科技有限公司、深圳市三一联光智能设备股份有限公司、芯创（天门）电子科技有限公司、深圳市德博微电子有限公司、锐石创芯（深圳）半导体有限公司、柯泰光芯(常州)测试技术有限公司、深圳市信展通电子股份有限公司、深圳市芯通康科技有限公司。
起草人：杜飞波、侯飞、高东兴、郑义、万里佳、李菀婷、董小雨、蔡纯、刘继芝、孙肖林、鲍恩忠、袁路平、冯溪渊、杜志华、顾岚雁、魏国栋、张晓、李昆华、黄玮、赵俊露、曹飞龙、陈冬山、葛柱、古成、洪育铠、张开明、陈海文、唐顺柏、冯白华、李强、秦波、林楷辉、田铮、周刚、谭超。