T/CSP 13-2024 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法

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标准号:T/CSP 13-2024

标准名称:颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法

团体名称:中国颗粒学会

发布日期:2024年11月18日

实施日期:2024年11月25日

微纳米异质结构的形貌、结构、成分以及界面等往往与材料的宏观性能密切相关,因此对微纳米异质结构样品多方面的准确分析显得尤为重要。透射电子显微镜是采用透过样品的电子束成像来显示样品内部形态与结构的表征设备,其配备扫描透射附件、能谱附件后更能对样品结构、成分进行较精确的分析,尤其适用于微纳米异质结构样品,可实现微纳米异质结构的形貌、结构、成分和界面的一体化表征。近年来随着透射电子显微镜分辨率的不断提高,可配备探测器的多样化,以及样品制备技术手段的提升,使得采用透射电子显微镜对微纳米异质结构样品的分析具有更广泛的适用性和有效性。

起草人:常怀秋、李婷、白露、杜志伟、齐笑迎、贾荣光、朱晓阳、韩小磊、车聪、高 原、郎爽、毛璐、周素红。

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