IEC 62951-1:2017 半导体器件 - 柔性和可拉伸半导体器件 - 第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲测试方法

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适用范围：IEC62951-1:2017适用于半导体器件中的柔性电子器件，特别是针对柔性显示模块的机械耐久性测试方法。该标准规定了评估柔性电子器件在反复弯曲、折叠或其他机械应力下的可靠性和性能的测试条件和程序，旨在确保这些器件在实际应用中的长期稳定性和耐用性。

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