适用范围：IECTR62258-8:2008是国际电工委员会（IEC）发布的一份技术报告，属于半导体芯片产品标准系列的一部分，该报告主要针对半导体裸芯片（die）的供应、处理和使用提供指导，特别是第8部分着重于裸芯片的静电放电（ESD）敏感度分类和测试方法，适用于半导体制造商、供应商以及使用裸芯片进行系统集成的设计人员和组装厂商，旨在确保裸芯片在供应链各环节中的ESD防护措施得当，减少因静电放电导致的器件损坏或可靠性问题。
IEC TR 62258-8:2008 半导体芯片产品 - 第8部分：数据交换用EXPRESS模型架构
