IEC 60759:1983 半导体X射线能谱仪标准测试规程

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适用范围:IEC60759:1983适用于描述和规定用于放射性核素成像的闪烁照相机和单光子发射计算机断层扫描(SPECT)系统的性能测试和评估方法。该标准主要涵盖了系统性能参数的测量程序,包括空间分辨率、能量分辨率、均匀性、线性度、计数率特性以及系统灵敏度等关键指标,旨在确保这些医疗成像设备在临床使用中的准确性、一致性和可靠性。

IEC 60759:1983 半导体X射线能谱仪标准测试规程

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