T/CIE 144-2022 半导体器件可靠性强化试验方法

免费下载

本平台标准仅供学习参考，使用请以正式出版的标准版本为准。

适用范围：本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法，并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。

声明：资源收集自网络分享，所提供的电子版文档仅供学习参考，如侵犯您的权益，请联系我们处理。