T/CIE 152-2022 微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序

T/CIE 152-2022 微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序

适用范围：本文件规定了微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序，包括外部特征分析、内部特征分析以及内部微观特征分析。 本文件适用于塑封及气密封装的微电子器件。