适用范围：IEC62415:2010标准适用于集成电路（IC）的电子和电气特性测试，特别是针对静态随机存取存储器（SRAM）的软错误率（SER）测试方法。该标准规定了在加速测试条件下评估SRAM器件对由宇宙射线和放射性物质引起的单粒子翻转（SEU）和多位翻转（MBU）的敏感性。它适用于半导体制造商、测试实验室和相关行业，用于评估和比较不同SRAM器件在辐射环境中的可靠性表现。
IEC 62415:2010 半导体器件 - 恒定电流电迁移测试
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