标准号：GB/Z 107-2025
标准名称：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
发布日期：2025-12-03
GB/Z 107-2025由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
适用范围：本文件提供了一种性能评估存储单元的设计技术，以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。 本文件适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平，有助于提升系统可靠性。
标准号：GB/Z 107-2025
标准名称：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
发布日期：2025-12-03
GB/Z 107-2025由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
适用范围：本文件提供了一种性能评估存储单元的设计技术，以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。 本文件适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平，有助于提升系统可靠性。